超声扫描(C-SAM)
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检测项目：超声波扫描试验、C-ASM
定义：
超声波显微镜 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的简称，又称为C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此检测为应用超声波与不同密度材料的反射速率及能量不同的特性来进行分析。 利用纯水当介质传输超声波信号，当讯号遇到不同材料的界面时会部分反射及穿透，此种发射回波强度会因为材料密度不同而有所差异，扫描声学显微镜就是利用此特性，来检验材料内部的缺陷并依所接收的信号变化将之成像。
检测能力：
1、试验目的：无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷（裂纹、分层、空洞等）；通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。
2、试验步骤：确认样品类型→选择频率探头→放置测量装置中→选择扫描模式→扫描图像→缺陷分析
3、测试标准：IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B等
适用行业：
塑料封装IC、晶片、PCB、LED
认可 专业第三方检测机构
标准化实验室 仪器800余台
统一报价， 无隐形消费
工程师全程 一对一技术服务
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客户按照要求寄送待检样品，确保样品安全、完整到达。
双方确认检测方案后，签订合同并支付检测费用，确保流程透明。
利用先进设备和技术，对样品进行全面、细致的分析检测。
根据检测结果，出具详细、准确的检测报告，为客户提供数据支持。
提供检测报告的解读服务，并根据客户需求提供后续技术支持和咨询。
